Thử nghiệm Thiết bị công nghệ thông tin

Thử nghiệm Thiết bị công nghệ thông tin

Thử nghiệm Thiết bị công nghệ thông tin

 

Thử nghiệm Thiết bị công nghệ thông tin

Phương pháp thử

Thiết bị công nghệ thông tin: thử nghiệm nhiễu dẫn tại cổng điện lưới, thử nhiễu dẫn tại cổng viễn thông, thử nhiễu bức xạ, thử miễn nhiễm phóng tĩnh điện, thử miễn nhiễm trường điện từ bức xạ, thử miễn nhiễm bứu/ quá độ nhanh về điện, thử miễn nhiễm với sự đột biến, thử miễn nhiễm với nhiễu dẫn, thử miễn nhiễm từ trường tần số nguồn, thử miễn nhiễm sụt điện áp, thử gián đoạn ngắn hạn và thay đổi điện áp, thử miễn nhiễm với sóng dao động

CISPR, TCVN, IEC